RHESCA**薄膜附着强度测试仪CSR-2000

RHESCA**薄膜附着强度测试仪CSR-2000

RHESCA**薄膜附着强度测试仪CSR-2000简单介绍 
基于JIS R-3255标准，以MICRO SCRATCH法评价光学薄膜、半导体扩散工程、表面改质以及记忆媒体等各种用途的薄膜与基材，或薄膜与界面之间的密着力（附着强度）的**薄膜附着强度测试仪。为成膜研究与测试所*的测试设备。


RHESCA**薄膜附着强度测试仪CSR-2000的详细介绍 
CSR-2000基于JIS R-3255标准，以MICRO SCRATCH法评价光学薄膜、半导体扩散工程、表面改质以及记忆媒体等各种用途的薄膜与基材，或薄膜与界面之间的密着力（附着强度）的**薄膜附着强度测试仪。

**薄膜附着强度测试仪的概要
**薄膜附着强度测试：原子化（分子化）的膜材料到达基材表面成型时，与基材表面的原子的结合数会直接影响到膜的密着强度。这个结合数，受分子的能量状态、基板的清洗状态等的影响。在与成膜有关的研究开发机工程管理中，可使用本设备进行密着强度的评价。
以往的划痕测试仪，摩擦膜表面造成破坏点时，依靠摩擦力的变化及音响信号等来评价密着强度。但是，膜厚在微米级以下的薄膜的破坏点很难检测出来。为解决这个问题，CSR-2000采用高感度的能够检测出薄膜破坏的MICRO SCRATCH法，测试纳米级别的薄膜的附着强度。较适合评价液晶显示屏的透明电极膜、光学薄膜、DLC、磁盘的保护膜等的附着强度。

RHESCA**薄膜附着强度测试仪CSR-2000的特点

	具有直线增加荷重的控制功能，在镜头等的曲面上也能做测试 

	可以进行以特定荷重来评价的特定负荷测试 

	基于信号的FFT分析功能，高感度进行剥离检测 

	测试部位的设定以及测试后的划伤观察等简单易行 

	测试不需要花费很多时间(1次测试约1～2分钟) 

	与小型硬度计等薄膜物性测试仪相比，能够在普通的操作台上测试 

	能进行JIS R-3255标准(以剥离为基板的薄膜附着性测试方法)的测试 


RHESCA**薄膜附着强度测试仪CSR-2000的相关参数
荷重检出装置
	荷重印加范围	1mN/1000mN
	荷重分辨率	0.2mN
	允许过负荷	300%FS
摩擦力检出装置	
	速度倍号输出	1mV
	频率量程	20H 卜 10kHz
	励振频率	45Hz
	励振振幅	0-5-10-20-40-50-80-100 jum
	触针材质	金刚石
	触针形状_	R5-10-15-25-50-100jL/m
Z轴驱动装置 ※荷重印加方向	
	驱动分辨率	0.5 u m
	驱动速度	0.1-10 u m/sec
X轴驱动装置 ※Scratch方向	
	驱动范围	20mm
	驱动分辨率	0.5 u m
	驱动速度	0.20u m/sec
丫轴驱动装置	
	驱动范围	±6.5mm
数据输出方式 		USB
尺寸及重量 		W350 x D370 x H450 (26kg)
电源 			AC100-240V